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可靠性壽命試驗(yàn)中壽命與應(yīng)力的關(guān)系:
    應(yīng)力與壽命是密切相關(guān)的。應(yīng)力的種類與水平，是決定產(chǎn) 品壽命的一個(gè)重要因素I應(yīng)力及其水平的選擇是否恰&將決 定試驗(yàn)?zāi)芊襁_(dá)到預(yù)期的目的，因此，有必要研究它們之間的關(guān)系。
    產(chǎn)品的壽命與應(yīng)力之間的關(guān)系，是以一定的物理模型為依據(jù)的。常見的物理模型有失效率模型，應(yīng)力與強(qiáng)度模型，最弱鏈條模型和反應(yīng)速度模型。
    失效率模型是將失效率曲線劃分為早期失效，隨機(jī)失效和磨損失效三個(gè)階段，并將每個(gè)階段的產(chǎn)品失效機(jī)理與其失效率 相聯(lián)系起來。人們經(jīng)過仔細(xì)的觀察和分類，將失效分為17種類 型：即吸附W效、電弧失效、齒隙（使機(jī)械運(yùn)動停止）失效、 機(jī)械運(yùn)動缺陷失效、表面皺裂失效、碳化失效、摩擦失效、化 學(xué)污染失效、變形失效、失真失效、漂移失效、破損失效、泄 漏失效、噪聲失效、開路失效、短路失效和不穩(wěn)性失效等。如果能把每一類失效都求出其失效率，那么，對試驗(yàn)結(jié)果的分析 將帶來很大的方便。
    應(yīng)力與強(qiáng)度模型就是研究實(shí)際環(huán)境應(yīng)力與產(chǎn)品所能承受的 強(qiáng)度的關(guān)系。應(yīng)力與強(qiáng)度均為隨機(jī)變量，因此，產(chǎn)品的失效與 否將決定于應(yīng)力分布和強(qiáng)度分布。隨著時(shí)間的推移，產(chǎn)品的強(qiáng) 度分布將逐漸發(fā)生變化，如果應(yīng)力分布與強(qiáng)度分布一旦發(fā)生了 干預(yù)，產(chǎn)品就會出現(xiàn)失效，因此，研究應(yīng)力與強(qiáng)度模型對了解 產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)能力是很重要的。
    最鏈條模型躉棊于元器件的失效是發(fā)生在構(gòu)成元器件的 諸因素中最薄弱的部位這—事實(shí)而提出來的。這種模型，對于 研究電子產(chǎn)品在高溫下發(fā)生的失效現(xiàn)象最為有效，因?yàn)檫@類失 效正是由于元器件內(nèi)部潛在的微觀缺陷和污染，在經(jīng)a制造和 使用后而逐漸顯露出來的。暴露最顯著、最迅速的地方，就是最薄弱的地方，也是最先失效的地方。
    反應(yīng)速度模型反映了反應(yīng)速度與溫度的關(guān)系。這種模型認(rèn) 為，產(chǎn)品的失效是由于微觀的分子與原子結(jié)構(gòu)發(fā)生了物理或化 學(xué)的變化而引起的，從而導(dǎo)致在產(chǎn)品特性參數(shù)上的退化，當(dāng)這 種退化超過了某一界限，就發(fā)生失效。在可靠性試驗(yàn)中通常應(yīng) 用的阿列尼烏斯模型和愛林模型，都屬于這一類。