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可靠性試驗(yàn)中壽命與應(yīng)力模型的廣泛用途：
    壽命與應(yīng)力模型廣泛應(yīng)用于各種可靠性試驗(yàn)中，尤其對(duì)元 器件、介質(zhì)材料的壽命試驗(yàn)。下面舉例說(shuō)明其應(yīng)用情況：
(1)阿列尼烏斯模型的應(yīng)用
    這個(gè)模型廣泛地應(yīng)用于電子元器件等的加速壽命試驗(yàn)中， 例如，對(duì)顯象管進(jìn)行加速壽命試驗(yàn)，通過(guò)提高燈絲電壓，從而 提高陰極的溫度，得出壽命的對(duì)數(shù)與溫度的倒數(shù)符合直線關(guān) 系，其規(guī)律性能很好地由阿列尼烏斯模型來(lái)描述。如果工藝條 件成熟，管內(nèi)的真空度保持良好，則顯象管的壽命決定于陰極 的壽命。如果陰極處于良好的激活狀態(tài)下，則在整個(gè)壽命過(guò)程 中，其盈余鋇的損耗量與生成量應(yīng)保持平衡，當(dāng)這平衡被破壞 后，陰極壽命便告終。圖卜13是顯象管的燈絲電壓為7V、 7.5V、8V (明極溫度相應(yīng)為 1145K、1202.5K、123J.5K)下 進(jìn)行加速壽命試驗(yàn)的結(jié)果。利用阿列尼烏斯模型描述顯象管加 速壽命試驗(yàn)，其外推值與在正常條件下進(jìn)行壽命試驗(yàn)的結(jié)果相 比，誤差僅在2%以內(nèi)。.
表1-5是顯象管的加速試驗(yàn)結(jié)果與常溫條件下試驗(yàn)結(jié)果的
比較。
(2)愛林模型的應(yīng)用
    半導(dǎo)體器件的芯片是通過(guò)金絲或鋁絲互連而引出的。如果半導(dǎo)體器件是在高溫高濕下工作，則A卜Au或A1-A1的接觸點(diǎn) 極易剝離；或在潮濕的環(huán)境中，由于腐蝕而產(chǎn)生開路、短路、 漏電流增加等失效。其機(jī)理是由于在接點(diǎn)處沾上了不潔物而形 成電位分布，從而產(chǎn)生了電化學(xué)反應(yīng)。對(duì)這種電化學(xué)反應(yīng)與產(chǎn) 品壽命的關(guān)系，可以通過(guò)愛林模型來(lái)描述。
(3）-5次方10度法則的應(yīng)用
 應(yīng)用這個(gè)法則的例子很多。