復(fù)合絕緣子由于其優(yōu)秀的防污閃特性被越來越多地應(yīng)用于電力系統(tǒng)中，良好的生產(chǎn)質(zhì)量是復(fù)合絕緣子能夠長(zhǎng)期安全運(yùn)行的首要條件，在制造過程中，不允許在復(fù)合絕緣子中含有內(nèi)部缺陷，例如裂隙、脫粘等。一旦復(fù)合絕緣子含有內(nèi)部缺陷，將很容易出現(xiàn)老化過程，例如局部放電、護(hù)套閃絡(luò)等。
目前，關(guān)于內(nèi)部缺陷對(duì)老化過程的影響尚沒有一個(gè)清晰全面的認(rèn)識(shí)，為了優(yōu)化復(fù)合絕緣子的生產(chǎn)工藝，提高其出廠質(zhì)量，需要針對(duì)含內(nèi)部缺陷的復(fù)合絕緣子的老化過程進(jìn)行更多的研究。本文主要對(duì)含缺陷的復(fù)合絕緣子進(jìn)行人工加速基金項(xiàng)目：國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(51150110477)老化試驗(yàn)，試驗(yàn)結(jié)果有助于我們理解含交界面缺陷復(fù)合絕緣子的老化過程。所采用的試驗(yàn)方法也推薦成為鑒定復(fù)合絕緣子交界面質(zhì)量的補(bǔ)充手段。
一、試驗(yàn)樣品
進(jìn)行加速老化實(shí)驗(yàn)的短絕緣子在芯棒與護(hù)套交界面上含有不同類型的人造缺陷，缺陷尺寸見圖1。人造缺陷主要包括以下類型：
(1)導(dǎo)通缺陷(銅片，厚0.2 m m，寬20 m m，長(zhǎng)40-60 I nm)。
(2)半導(dǎo)通缺陷(木片，厚1 m m，寬20 m m，長(zhǎng)40～60 m m)。
(3)部分區(qū)域粘結(jié)性喪失60 m i nx20 m m(長(zhǎng)×寬)。
(4)無缺陷(對(duì)照組)。加速老化試驗(yàn)所用的電極與水煮試驗(yàn)類似，電極結(jié)構(gòu)見圖2。
二、試驗(yàn)方法
將短絕緣子樣品加裝電極進(jìn)行加速老化試驗(yàn)，接地電極與1個(gè)高采樣率的泄露電流采集裝置相連，以監(jiān)控加壓過程中的泄露電流波形與局部放電脈沖波形。整個(gè)加壓裝置安裝在霧室中，室內(nèi)的溫度與相對(duì)濕度均可控在試驗(yàn)開始前，采用下列方法之一對(duì)含人造缺陷絕緣子樣品進(jìn)行預(yù)處理：
1)使用真空干燥箱在50℃下進(jìn)行干燥；
2)不同時(shí)長(zhǎng)的水煮試驗(yàn)；
3)在50℃下對(duì)水煮后的樣品重新進(jìn)行干燥。不同的預(yù)處理過程可以更好地幫助我們理解水分侵入對(duì)于復(fù)合絕緣子老化機(jī)理以及泄露電流的影響。為了比較含不同缺陷的復(fù)合絕緣子的泄露電流特征，對(duì)其施加逐步升高的試驗(yàn)電壓，初始試驗(yàn)電壓3kV，每次升壓2kV，至33kV為止。每次升壓后，維持電壓不變持續(xù)至少1min。如果泄露電流仍隨時(shí)間變化，則繼續(xù)保持電壓，直至泄露電流穩(wěn)定或者有閃絡(luò)發(fā)生。在試驗(yàn)過程中．使用紅外相機(jī)(FLIR T330)觀測(cè)樣品的溫度分布情況。http://www.456619.com
